KD3200絕緣電阻吸收比測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介 Product Introduction

電力試驗(yàn)規(guī)程對(duì)眾多的電力設(shè)備如：電纜、電機(jī)、發(fā)電機(jī)、變壓器、互感器、高壓開(kāi)關(guān)、避雷器等要求做一系列的絕緣性能試驗(yàn)，首先是要做絕緣電阻測(cè)試。近年來(lái)隨著電力事業(yè)的飛速發(fā)展,大容量設(shè)備的使用不斷增加，用普通的兆歐表無(wú)法檢測(cè)其絕緣性能。

KD3200絕緣電阻吸收比測(cè)試儀

在測(cè)試大容量電力設(shè)備的絕緣電阻時(shí)，絕緣電阻值和加壓的時(shí)間有關(guān)，加壓時(shí)間越長(zhǎng)，絕緣阻值越高，這種現(xiàn)象叫絕緣的吸收現(xiàn)象。要了解被試品的絕緣性能必須首先對(duì)其做吸收比和極化指數(shù)試驗(yàn)，為下一步的泄漏、介質(zhì)損耗、局部放電等，絕緣性能試驗(yàn)提供安全保障。我公司依照電力標(biāo)準(zhǔn)化規(guī)程特推出絕緣電阻吸收比測(cè)試儀，對(duì)電力設(shè)備進(jìn)行絕緣、吸收比、極化指數(shù)耐壓泄漏試驗(yàn)，為系列絕緣試驗(yàn)提供前期準(zhǔn)確判斷。
由于充電電流直接影響到大容量容性試品的絕緣值測(cè)試，因此需要大的充電電流，充電能力越強(qiáng)吸收比測(cè)試值就越接近真實(shí)值。XXX短路電流大于5mA,克服了普通型兆歐表短路電流小，測(cè)試不準(zhǔn)確、易受干擾等弊端。XXX采取適時(shí)電壓電流采樣做除法運(yùn)算，所以在測(cè)試時(shí)即便電壓發(fā)生變化，由歐姆定理計(jì)算得到的電阻值也是準(zhǔn)確的。該表采用*單片機(jī)控制流程，人機(jī)界面對(duì)話，攜帶方便，操作簡(jiǎn)單；內(nèi)附高性能大容量充電電池，交直流兩用，并設(shè)有欠壓保護(hù)和電池過(guò)充保護(hù)。本儀器可以自動(dòng)顯示當(dāng)前時(shí)間，保存歷史測(cè)試數(shù)據(jù)及時(shí)間，為試驗(yàn)人員提供了極大的方便。
絕緣電阻吸收比測(cè)試儀是一種新型智能化儀表，是試驗(yàn)人員的較佳選擇。

產(chǎn)品參數(shù) Product Parameters

1、輸出電壓：
-DC500V，-DC1000V，-DC2500V，-DC5000V, -DC10000V
誤差：±5％FS(FS為滿量程值)；
2、功能參數(shù)：
電阻顯示范圍：100KΩ到35TΩ
500V,0-10G 1000V,0-20G，2500V,0-1T, 5000V,0-35T,
模擬進(jìn)度條顯示   0-10T
電流測(cè)量精度（23℃）：在所有電壓，±5％±0.2μA 
電容放電：從5000 V至50 V，<250 ms/μF放電
防護(hù)等級(jí)：IP65（蓋子封閉），IP40（蓋子打開(kāi)）
安全性：符合IEC61010-1，CATIV600 V要求
3、測(cè)試精度范圍
1～10MΩ誤差： ±10％FS(FS為滿量程值)；
10M～10GΩ誤差： ±5％FS(FS為滿量程值)；
20 ～200GΩ誤差：±10％FS(FS為滿量程值)；
10T≧200GΩ誤差：   ±20％FS(FS為滿量程值)；
4、使用條件
環(huán)境溫度：  0℃－40℃
相對(duì)濕度：  ≤70％RH
5、電源適用范圍
交流：220V±10%   充電（內(nèi)置大容量鋰電，交直兩用，便攜式）
6、體積與重量
體積：280mm×210mm×100mm；
重量：＜5kg

產(chǎn)品特征 Product Characteristics

1、由于充電電流直接影響到大容量容性試品的絕緣值測(cè)試，因此需要大的充電電流，充電能力越強(qiáng)吸收比測(cè)試值就越接近真實(shí)值。絕緣電阻吸收比測(cè)試儀短路電流大于5mA，克服了普通型兆歐表短路電流小，測(cè)試不準(zhǔn)確、易受干擾等弊端。
2、本儀器采取適時(shí)電壓電流采樣做除法運(yùn)算，所以在測(cè)試時(shí)即便電壓發(fā)生變化，由歐姆定理計(jì)算得到的電阻值也是準(zhǔn)確的。
3、該表采用*單片機(jī)控制流程，人機(jī)界面對(duì)話，攜帶方便，操作簡(jiǎn)單；內(nèi)附高性能大容量充電電池，交直流兩用，并設(shè)有欠壓保護(hù)和電池過(guò)充保護(hù)。
4、本儀器可以自動(dòng)顯示當(dāng)前時(shí)間，保存歷史測(cè)試數(shù)據(jù)及時(shí)間，為試驗(yàn)人員提供了極大的方便。